Laagdiktemeter LAYERCHECK 750 USB
Contactvrije meting op metalen ondergronden / Incl.- software
Meetmethode conform DIN, ISO, BS, ASTM / Kabellengte van de sonde 1m
|
De nieuwe MEGA-CHECK pocket meter gebruikt digitale meetsondes, waarbij analoge signalen direct in de sonde gedigitaliseerd worden en via de sondekabel digitaal aan het meetinstrument overgedragen worden. Deze nieuwe techniek is non-destructief en zorgt voor zeer precieze reproduceerbare metingen. De sondekabel is insteekbaar aan beide kanten (apparaat en de sonde) en bijzonder service vriendelijk, gezien er bij een kabelbreuk alleen de kabel vervangen dient te worden. Het handige formaat van de behuizing met de rubberen zijkanten is amper groter dan de meetsonde. Door de nieuwe ASR-techniek (Automatic-Statistic-Result) is het mogelijk, de statistiek van de laatste meetreeksen weer te geven. Hiervoor wordt simpelweg de sondestekker van het apparaat gescheiden en na het inschakelen van het apparaat worden automatisch na elkaar de statistiekwaarden Min-max-gemiddelde en standaardafwijking van de laatste meetreeksen weergegeven.
Mocht u vragen hebben over de laagdiktemeter LAYERCHECK 750 USB, dan kunt u de volgende technische specificaties raadplegen of neemt u contact met ons op via het telefoonnummer +31
(0)900 120 00 03. Onze technische medewerkers en ingenieurs geven u graag meer advies over deze
laagdiktemeter en al onze andere producten op het gebied van meettechniek,
weegtechniek en
regeltechniek.
|
|
|
-
LAYERCHECK 750 USB-F werkt volgens de
magnetisch-inductieve methode
- LAYERCHECK 750 USB-FN gebruikt zowel de
magnetisch-inductieve als de wervelstorm
methode.
|
- Meetmethode conform DIN, ISO, BS, ASTM
- Dataoverdracht via USB-interface
- Grote, verlichte LC-Display
- Kabellengte van de sonde 1m
|
Technische specificaties van de laagdiktemeter LAYERCHECK 750 USB
|
Meetbereiken
Model 750 USB-F
Model 750 USB-FN |
0 - 3000 μm
0 - 2000 μm (F)
0 - 2000 μm (N)
|
Meetonnauwkeurigheid |
± (2% + 2 μm) van de meetwaarde
|
Kleinste Krommingradius van het meetobject |
konvex: 5 mm
konkav: 25 mm
|
Kleinste Meetvlak |
ø 20 mm
|
Kleinste dikte van de grond werkstof |
0,5 mm (F)
50 μm (N)
|
Display |
4-cijferig, Cijferhoogte 11 mm
|
Meeteenheden |
μm – mils omschakelbaar
|
Kalibratie |
Standaard-, 1-punt-, 2-punt-kalibratie
|
Statistiekberekening |
Uit max. 9999 meetwaarden
|
Geheugen |
Gemiddelde, standaardafwijking, aantal meetwaarden, grootste/kleinste meetwaarde
|
Interface |
USB
|
Stroomvoorziening |
3 Micro-AAA-batterijen
(>10000 metingen)
|
Omgevingstemperatuur |
Apparaat: 0 - 50 °C
Sonde: -10 °C - 70 °C
|
Afmetingen (L x B x D) |
Apparaat: ca. 122 x 70 x 32 mm
Sonde: Ø 15 mm x 62 mm
|
Gewicht |
ca. 225 g
|
Inhoud van de levering LAYERCHECK 750 USB-F
1x LAYERCHECK 750 USB-F, 1x Sonde voor metingen van staal, 3x Precisiestandaard (Kalibratiefolie), 1x Referentie-nulplaat (staal), 3x Batterijen AAA, 1x Softtas, 1x Software Msoft7000 basic edition |
Inhoud van de levering LAYERCHECK 750 USB-FN
1x LAYERCHECK 750 USB, 1x Combinatiesonde voor metingen op staal en non-ferrometalen, 3x Precisiestandaards (Kalibreerfolie), 2x Referentie-nulplaten (Staal/aluminium), 3x Batterijen
AAA, 1x Softtas, 1x Software Msoft7000 basic edition |
|
|
Hier vindt u het complete overzicht van alle
meetinstrumenten in het programma van PCE
Brookhuis |
Contact
PCE Brookhuis
Institutenweg 15
7521 PH Enschede
Tel. +31 (0)900 120 00 03
Fax +31 (0)53 430 36 46 |
Deze site in het Duits
,
Spaans ,
Italiaans ,
Engels ,
Russisch ,
Kroatisch ,
Frans ,
Hongaars ,
Turks ,
Tsjechisch , Bulgaars
, Pools ,
Portugees ,
Chinees
|